Thorlabs 雙折射成像系統

Thorlabs 雙折射成像系統

特性

Ø內置波長為633 nm的光源

Ø所測樣品相位延遲最大為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°

ØØ20 mm的視場

Ø完整的成像系統包含軟件和筆記本電腦

Ø兼容MLS203-1
XY掃描位移臺

Ø定制工作波長可聯系技術支持

Thorlabs 雙折射成像系統用于學術研究、醫療診斷、工業制造和產品質量保證，可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統基于液晶器件，其內部沒有相對機械運動，從而在運行過程中非常穩定，毫無振動干擾。

LCC7201工作的波長為633 nm，提供Ø20 mm的視場。該系統所測相位延遲范圍最大為半波長(316 nm)，方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。欲定制此類工作波長，請聯系技術支持。

在觀察樣品方面，LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架，同時還包含三個樣品支架插入件，分別可以固定Ø0.5英寸、 Ø1英寸和2英寸 x 2英寸的光學元件。MLS203P2在X方向上可以實現手動調節，適用于比Ø20 mm視場大的樣品。此外，該系統還兼容Thorlabs的MLS203-1
XY掃描位移臺（提供X軸和Y軸方向的手動調節和電動調節），升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規格如右表所示。

購買時附帶軟件預先裝好的Windows®筆記本電腦。想要了解其他有關這個系統的軟件特性和樣品測量結果的信息，請查看上面的軟件標簽。

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可按需求定制。詳情請聯系技術支持。

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默認相機設置時的性能。

雙折射成像系統